Elektronische Reisepässe erfolgreich getestet
(06/2006 Bundesministerium des Innern) Experten aus 38 Nationen haben vom 30. Mai bis 01. Juni 2006 in Berlin mit einem Interoperabilitätstest die wechselseitige Funktionsfähigkeit von elektronischen Reisepässen und Lesegeräten getestet. Der Obmann des DIN-Spiegelausschusses des internationalen Normungsgremiums für "Karten und persönliche Identifikation", Michael Hegenbarth, hat die Veranstaltung unter der Schirmherrschaft der Europäischen Kommission, des Französischen Innenministeriums und des Bundesministeriums des Innern organisiert. An zwei Testtagen wurden mehr als 400 elektronische Reisepässe unterschiedlicher Länder in Kombination mit 50 Lesegeräten verschiedener Hersteller geprüft. Ein abschließender Ausstellungs- und Konferenztag diente dem internationalen Austausch über den Einsatz von Biometrie in Dokumenten.
Dr. August Hanning, Staatssekretär im Bundesministerium des Innern, betonte in seinem Grußwort: "Mit der höheren Fälschungssicherheit der Reisepässe durch die Integration biometrischer und kryptographischer Sicherheitsmerkmale ist viel gewonnen, doch die zweite Dimension des Sicherheitsgewinns lässt sich nur in internationaler Zusammenarbeit realisieren: der Schutz vor Dokumentenmissbrauch durch den maschinellen, biometrischen Abgleich von Person und Dokument. Wesentlicher Schritt zu diesem neuen biometriegestützten Grenzkontrollregime sind weltweit einheitliche Standards für Pässe und Lesegeräte."
Auf deutscher Seite arbeiten das Bundesamt für Sicherheit in der Informationstechnik und das Bundeskriminalamt gemeinsam mit der deutschen Industrie bei der Entwicklung internationaler Standards vor allem hinsichtlich Dokumentensicherheit und IT-Sicherheit mit. Beide Behörden verantworteten die Vorbereitung, Durchführung sowie Auswertung der Interoperabilitätstests und werden die Ergebnisse in die relevanten Gremien auf europäischer und internationaler Ebene einbringen.
Mit über 450 aktiven Testern und Konferenzgästen aus Industrie, Politik und Verwaltung verzeichnete das Expertentreffen im Vergleich zu früheren internationalen Tests die höchste Teilnehmerzahl. Ein großer Teil der fachlichen Anfragen bezog sich auf die deutschen Erfahrungen mit der ePass-Einführung: Seit November 2005 werden in Deutschland elektronische Reisepässe mit einem ersten biometrischen Merkmal im Chip, dem digitalen Passfoto, ausgegeben. Für 2007 ist die zusätzliche Speicherung der Fingerabdrücke in den ePass-Chips vorgesehen.
Die technische Spezifikation des europäischen biometrischen Reisepasses orientiert sich an den von der New Technologies Working Group (NTWG) der Internationalen Zivilluftfahrtbehörde ICAO (International Civil Aviation Organization) erstellten Empfehlungen. Die NTWG arbeitet eng mit dem zuständigen Subkomitee der Internationalen Normungsorganisationen ISO und IEC zusammen. Die deutsche Haltung wird im so genannten Spiegelausschuss des DIN "Karten und persönliche Identifikation" entwickelt. Arbeitsschwerpunkte sind die physikalischen Eigenschaften von Identifikationskarten, Prüfverfahren für Identifikationskarten und Austauschprotokolle von Chipkarten und kontaktlosen Chipkarten. Der DIN-Spiegelausschuss "Biometrie" bündelt die deutschen Interessen zu allen Aspekten biometrischer Technologien. Die Standards für Identifikationskarten (ISO/IEC 7816 und 14443) und Biometrische Datenaustauschformate (ISO/IEC 19794) sorgen für die weltweite Kompatibilität von ePässen.
Nähere Informationen zur Veranstaltung, Details zum technischen Ablauf und den Testergebnissen sind abrufbar unter http://www.interoptest-berlin.de.